X射线光电子能谱仪
-
3/人使用者
-
61/次总次数
-
1959/小时总时长
-
16/人收藏者
-
收费标准
机时0元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
wltra-DLD -
当前状态
-
管理员
冯婷,admin 13811464563 -
放置地点
学院、校区冶金与生态工程学院冶金生态楼109
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
- 同类仪器
名称
X射线光电子能谱仪
资产编号
20130575
型号
wltra-DLD
规格
*
产地
日本
厂家
华尔达
所属品牌
出产日期
2010-03-31
购买日期
2010-03-31
所属单位
冶金与生态工程学院
使用性质
教学
所属分类
质谱、能谱、波谱分析仪器
资产负责人
冯婷
联系电话
13811464563
联系邮箱
fengting@ustb.edu.cn
放置地点
学院、校区冶金与生态工程学院冶金生态楼109
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
测试深度3-5nm，分析区域<1mm2，常温测试；测试除H、He以外的元素种类、价态及含量。主要用于固体样品表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析等。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体，粉末、薄膜等。
主要功能及特色
无测试深度3-5nm，分析区域<1mm2，常温测试；测试除H、He以外的元素种类、价态及含量。主要用于固体样品表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析等。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体，粉末、薄膜等。
样本检测注意事项
无测试深度3-5nm，分析区域<1mm2，常温测试；测试除H、He以外的元素种类、价态及含量。主要用于固体样品表面化学组成、化学元素像、化学价态、价带结构、晶体结构分析等。适用于非放射性和非挥发性金属、合金等导体、半导体、绝缘体，粉末、薄膜等。
设备使用相关说明
工作日开放，提前预约
备注
视具体实验内容而定
预约资源
检测项目
附件下载
公告
同类仪器
