场发射扫描电子显微镜
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收费标准
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设备型号
Zeiss Merlin Compact -
当前状态
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管理员
李萧 13810950469 -
放置地点
直属部门国家材料服役安全科学中心(昌平科技园校区)主楼B座C101
- 仪器信息
- 预约资源
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- 公告
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名称
场发射扫描电子显微镜
资产编号
S2101694
型号
Zeiss Merlin Compact
规格
Merlin Compact
产地
德国
厂家
德国Zeiss
所属品牌
出产日期
购买日期
2021-04-30
所属单位
国家材料服役安全科学中心
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
李萧 辛龙
联系电话
13810950469
联系邮箱
lixiao@ustb.eu.cn
放置地点
直属部门国家材料服役安全科学中心(昌平科技园校区)主楼B座C101
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
主要规格&技术指标
技术指标：
分辨率：1.0nm @ 15kV
放大率：12×～2,000,000×
加速电压：0.05kV～30kV
探针电流：5pA～20nA
样品室：330mm（内径）×270mm（高）
配置：
1.探测器：
In-lens Duo 内置式二次电子+能量选择背散射电子探测器
E-T 二次电子探测器
AsB 角度选择型背散射电子探测器
2.EDS
品牌：Oxford Instruments
型号：UltimMax 65
3.EBSD
品牌：Oxford Instruments
探头型号：Nordlys Max3
软件系统：AztecCrystal；HKL Channel 5
标定速度：870Hz（点/秒）
4.原位拉伸台
品牌：Gatan
型号：MTEST 2000ES
最大载荷：2000N
功能：拉伸；三点和四点弯曲
力测试精度：载荷级别的1%
拉伸速度：0.033～0.4mm/min
试件可拉伸距离：≤10mm
分辨率：1.0nm @ 15kV
放大率：12×～2,000,000×
加速电压：0.05kV～30kV
探针电流：5pA～20nA
样品室：330mm（内径）×270mm（高）
配置：
1.探测器：
In-lens Duo 内置式二次电子+能量选择背散射电子探测器
E-T 二次电子探测器
AsB 角度选择型背散射电子探测器
2.EDS
品牌：Oxford Instruments
型号：UltimMax 65
3.EBSD
品牌：Oxford Instruments
探头型号：Nordlys Max3
软件系统：AztecCrystal；HKL Channel 5
标定速度：870Hz（点/秒）
4.原位拉伸台
品牌：Gatan
型号：MTEST 2000ES
最大载荷：2000N
功能：拉伸；三点和四点弯曲
力测试精度：载荷级别的1%
拉伸速度：0.033～0.4mm/min
试件可拉伸距离：≤10mm
主要功能及特色
形貌观察、能谱测试、EBSD测试、原位拉伸测试。该设备是一台通用的高性能热场发射扫描电子显微镜，用于观察和分析金属、无机、有机、生物、复合材料等各种样品的表面微观形貌、结构特征和成分、取向（织构）信息。
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