场发射透射电子显微镜（JEM-F200）

生产厂商：日本JEOL

所属单位：碳中和研究院

放置地点：科技楼110实验室

预约方式：

1. 请到科技楼110加群进行预约咨询；
2. 电话联系15127917570（郭老师）咨询预约；
3. 邮件预约：b2621140@ustb.edu.cn

设备简介：

设备采用四级聚光镜设计，分别控制亮度和汇聚角；安装有两个100平方毫米无窗探头及双能谱混合器，可广泛应用于金属、矿物、半导体、陶瓷、等物质的纳米尺度微分析。

核心性能：

1. 四级聚光镜系统：能最大程度发挥出STEM功能；
2. 空间分辨率：TEM模式0.19 nm；STEM模式0.16 nm；
3. Spec Porter系统：可自动插装样品
4. 放大倍率：50×-2,000,000×；
5. 能量分辨率：0.3 eV。

主要应用：

1. 高分辨成像：观察晶格条纹、原子排布，区分晶体结构；
2. 缺陷表征：观测位错、层错、孪晶等微观缺陷；
3. 晶界晶粒：分析纳米晶粒、晶界及晶界析出相；
4. 物相界面：识别纳米第二相，解析界面原子结构；
5. 定量分析：标定晶格参数，关联结构与性能关系。

样品要求：

1. 尺寸：标准φ3 mm，有效薄区＜100 nm，粉末分散在载网上；
2. 状态：干燥，无挥发、分解、升华物质；
3. 禁忌：禁用强磁、腐蚀、放射性样品；
4. 洁净：表面清洁，减少碳污染；
5. 导电：尽量导电，降低荷电效应。

测试结果展示：

原子尺度高精度成像

高精度显微组织内元素分布分析

原位观测显微组织演变

显微组织分析联动元素分布

设备展示：