台式原位X射线吸收谱仪
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
Rapid XAFS 1M -
当前状态
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管理员
胡小雨 18810081763 -
放置地点
学院、校区数理学院理化楼123
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
台式原位X射线吸收谱仪
资产编号
S2403148
型号
Rapid XAFS 1M
规格
TZL-30
产地
中国
厂家
安徽国仪进出口贸易有限公司
所属品牌
出产日期
2023-05-01
购买日期
2024-02-20
所属单位
数理学院
使用性质
科研
所属分类
资产负责人
胡小雨
联系电话
18810081763
联系邮箱
hxy725821@163.com
放置地点
学院、校区数理学院理化楼123
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
主要规格&技术指标
能量范围：4.5-15 KeV；
谱学能量分辨率 ：XANES能量分辨率0.5～1.5 eV，EXAFS能量分辨率5～10 eV ；
检测限 ：≤1.0%质量分数EXAFS
光通量 ：≥1000000photons/sec @7keV
X射线管 ：采用Mo靶，高压范围5～40 kV，电流1～40 mA，最高功率≥1.6 kW
探测器：高精度SDD硅漂移探测器，铍窗厚度不大于25μm，有效探测面积不小于150 mm2
谱学能量分辨率 ：XANES能量分辨率0.5～1.5 eV，EXAFS能量分辨率5～10 eV ；
检测限 ：≤1.0%质量分数EXAFS
光通量 ：≥1000000photons/sec @7keV
X射线管 ：采用Mo靶，高压范围5～40 kV，电流1～40 mA，最高功率≥1.6 kW
探测器：高精度SDD硅漂移探测器，铍窗厚度不大于25μm，有效探测面积不小于150 mm2
主要功能及特色
主要功能：X射线吸收精细结构谱（X-ray absorption fine structure，XAFS）是一种用于研究物质的原子、电子结构的表征方法。通过测量物质对X射线的吸收特性，XAFS提供了关于物质中原子的信息，包括其化学价态、电子轨道、配位环境以及结构对称性等。
适用领域：XAFS可用于从事材料科学、生物与生命科学、环境科学、能源和催化科学、物理学和凝聚态物理等多学科的前沿基础研究。它与其他表征技术（如X射线衍射、光电子能谱和中子散射等）相结合，可以从原子、电子尺度研究材料结构和性能之间的联系。
适用领域：XAFS可用于从事材料科学、生物与生命科学、环境科学、能源和催化科学、物理学和凝聚态物理等多学科的前沿基础研究。它与其他表征技术（如X射线衍射、光电子能谱和中子散射等）相结合，可以从原子、电子尺度研究材料结构和性能之间的联系。
样本检测注意事项
样品要求：
1.样品量：粉末质量100毫克以上、含量1%以上；块体或者薄膜长宽1cm左右；液体样品大于1ml 浓度大于1%；
2.提供样品ICP测试结果，样品各个元素质量百分含量；
3.含放射性元素不能测试；
4.以下类型样品不适合测试：
①样品不均匀，比如单原子数量很少，或者团簇很多，导致测试结果偏单质相，这是由于XAFS是体相测试，不能只反映局部信息。
②测试元素含量太低，这里指质量百分比，一般0.5%以上用透射模式可以测试，0.1-0.5%之间需要用到荧光模式测试，增加扫描次数和时长以保证数据质量，若含量低于0.1%，大概率测不出或者得不到信号很好的数据，因此不建议测试。
③元素组成很复杂，测试这类样品中的单个元素，会导致其他金属元素干扰测试信号，不仅是信噪比变差，同时在EXAFS里的配位键归属困难，对辨别配位环境有很大影响。
1.样品量：粉末质量100毫克以上、含量1%以上；块体或者薄膜长宽1cm左右；液体样品大于1ml 浓度大于1%；
2.提供样品ICP测试结果，样品各个元素质量百分含量；
3.含放射性元素不能测试；
4.以下类型样品不适合测试：
①样品不均匀，比如单原子数量很少，或者团簇很多，导致测试结果偏单质相，这是由于XAFS是体相测试，不能只反映局部信息。
②测试元素含量太低，这里指质量百分比，一般0.5%以上用透射模式可以测试，0.1-0.5%之间需要用到荧光模式测试，增加扫描次数和时长以保证数据质量，若含量低于0.1%，大概率测不出或者得不到信号很好的数据，因此不建议测试。
③元素组成很复杂，测试这类样品中的单个元素，会导致其他金属元素干扰测试信号，不仅是信噪比变差，同时在EXAFS里的配位键归属困难，对辨别配位环境有很大影响。
设备使用相关说明
校内测试300元/小时；校外测试500元/小时
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检测项目
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